泰宜介质损耗测试仪

泰宜介质损耗测试仪

1、产品简介

         抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

 2、工作原理

         启动测量后高压设定值送到变频电源，变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值，测量电路将实测高压送到变频电源，微调低压，实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置，测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程，测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰，分离出信号基波，对标准电流和试品电流进行矢量运算，幅值计算电容量，角差计算tgδ。反复进行多次测量，经过排序选择一个中间结果。测量结束，测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。

         CVT测量：CVT隔离开关断开，低压隔离开关接通输出低压。测量C2时，CVT倒线开关接通，C2接入试品通道，用C1作标准电容测量C2。

泰宜介质损耗测试仪

3、技术指标

准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF）

                tgδ: ±（读数×1%+0.00040）

抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围： 内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV

分辨率： 最.高0.001pF，4位有效数字

tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA～5A

内施高压： 设定电压范围：0.5～10kV

最大输出电流：200mA

升降压方式： 连续平滑调节

电压精度： ±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率： 1V

试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频

                    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频

频率精度： ±0.01Hz

外施高压： 正接线时最大试验电流1A，工频或变频40-70Hz

                    反接线时最大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A

测量时间： 约40s，与测量方式有关

输入电源： 180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电

计算机接口： 标准RS232接口

打印机： 炜煌A7热敏微型打印机

环境温度： -10℃～50℃

相对湿度：<90%

四、仪器检定

4.1用标准损耗器检定

     用带插头的屏蔽电缆连接标准损耗器。如果不能保证标准损耗器的精度，应使用比对法检定，建议用2801电桥或其它精密电桥作比对标准。

     仪器应选用“内标准”和“RC串联试品”，可选择工频 50Hz或定频50Hz频率模式。

4.2用QSJ3检定

     使用带插头的屏蔽电缆连接QSJ3，选择“正接/ 外Cn / 外Un式测量，电流比为Cx∶Cn，Cn可置入适当值。

4.3抗干扰能力

     设置一个回路向仪器注入定量的干扰电流。

     注意：

     1）应考虑到该回路可能成为试品的一部分。

     2）仪器启动后会使220V供电电路带有测量频率分量，如果该频率分量又通过干扰电流进入仪器，则无法检验仪器的抗干扰能力。

     3）不建议用临近高压导体施加干扰，因为这样很容易产生近距离放电，这种放电电阻是非线性的，容易产生同频干扰。